在一项新研究中,科学家将扫描探针显微镜的原理颠倒过来,创造了第1台带有样品的基板振动而探针不动的扫描力显微镜.
研究于2月5日发表在《应用物理学评论》上,标题为“Membrane-Based Scanning Force Microscopy”(膜基扫描力显微镜),通讯作者为苏黎世联邦理工学院固态物理实验室的Alexander Eichler。
研究团队使用一个由氮化硅制成、厚度只有41纳米的穿孔膜作为谐振器。研究结果显示,无论是将样品装入膜中,还是将探针置于膜几纳米的范围内,都不会损害膜的特殊机械性能。而当针尖更接近样品,膜的频率或振幅就会改变,进而可以测量。研究称,这一新方法有望将力显微镜的灵敏度推到其基本极限。
译/前瞻经济学人APP资讯组
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